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快速動(dòng)力學(xué)停流裝置為樣品經(jīng)濟(jì)性設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)，只需要120微升的樣品進(jìn)行沖洗、裝載和收集數(shù)據(jù)，同時(shí)進(jìn)行3-4次重復(fù)測(cè)量，沖洗和樣品裝入均自動(dòng)完成，只需將120微升的溶液移到每個(gè)樣品杯中，在設(shè)計(jì)這種儀器的過(guò)程中，我們還增加了新的降噪電路，以改善信號(hào)。裝置用于數(shù)據(jù)收集和分析，給予的方便使用和功率，在消耗較少的樣本和較少的時(shí)間的同時(shí)，為您提供更高質(zhì)量的數(shù)據(jù)，可選的機(jī)器人自動(dòng)取樣器增加了吞吐量甚至更多，以負(fù)擔(dān)每天數(shù)百個(gè)樣品的無(wú)人值守的停止流動(dòng)測(cè)量?？焖賱?dòng)力學(xué)停流裝置主要特點(diǎn)：1.恒溫...

氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器能夠分散干燥粉塵和粉末，適用于需要連續(xù)穩(wěn)定高精度生成氣溶膠的應(yīng)用，這些測(cè)試氣溶膠通常被用于氣溶膠科學(xué)、過(guò)濾器檢驗(yàn)、工業(yè)加工和*任務(wù)。儀器具有可互換的分散裝置，可以在不同的輸出濃度下分散不同的材料，即使在環(huán)境濕度較高的地方，儀器也能通過(guò)壓力蓋保持材料干燥，是一種通用的干粉氣溶膠擴(kuò)散器，其在氣溶膠及粉體科學(xué)、工業(yè)過(guò)程和質(zhì)量控制中有廣泛應(yīng)用。干粉和灰塵的擴(kuò)散技術(shù)包含兩個(gè)步驟：即向擴(kuò)散器持續(xù)供料；將粉體擴(kuò)散為氣溶膠。氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器采用電池供電，因此使...

脈沖激光外延制備系統(tǒng)可制備的薄膜包括氮化物、氧化物、多層膜、鉆石、石墨烯、碳納米管、2D材料，還提供相關(guān)系統(tǒng)配件，例如基片加熱裝置、原位監(jiān)測(cè)工具，還為您提供標(biāo)準(zhǔn)的薄膜以及材料涂層，例如氧化物涂層、導(dǎo)電薄膜、無(wú)定型或納米晶、聚合物、納米鉆石、鉆石涂層以及器件加工。優(yōu)勢(shì)：1.靶源易蒸發(fā)，即使是高熔點(diǎn)的材料，如氧化物，也很容易蒸發(fā)。2.化學(xué)計(jì)量比準(zhǔn)確，沉積的薄膜和靶材的化學(xué)組分幾乎*一樣。3.污染少。4.激光脈沖的重復(fù)頻率可進(jìn)行薄膜厚度/生長(zhǎng)速率的數(shù)字式或非連續(xù)性控制。5.差分抽氣...

狹縫擠出式涂布機(jī)配合精密計(jì)量泵供料，漿料封閉運(yùn)行，可自由設(shè)定供料量，涂布精度高，涂層一致性好，若需實(shí)現(xiàn)間歇涂布，可選配閥體組件實(shí)現(xiàn)，配合漿液供料裝置實(shí)現(xiàn)高精密涂布應(yīng)用。涂布機(jī)弧形主驅(qū)熱風(fēng)式烘箱，干燥效果好，基材閉環(huán)張力控制，走帶穩(wěn)定，配置放卷糾偏、收卷糾偏、過(guò)程糾偏功能，操作方便，糾偏精度高，PLC控制，方便易用。本設(shè)備應(yīng)用于鋰電池正、負(fù)極極片涂布工藝，是一款應(yīng)用狹縫擠出式涂布模頭對(duì)基材進(jìn)行非接觸式涂布的一款設(shè)備，該設(shè)備通過(guò)配置狹縫擠壓涂布模頭、計(jì)量供料系統(tǒng)與進(jìn)料閥體配合可實(shí)...

球磨測(cè)厚儀可快速獲得涂層厚度，簡(jiǎn)單的球坑法是快速且精確地獲得所有涂層厚度的有效方法，適用單層和多層膜的涂層，通常包括CVD、PVD等離子噴涂涂層、陽(yáng)極氧化層、化學(xué)和電沉積、聚合物、油漆和涂料。球磨儀使用的球坑法能夠簡(jiǎn)單準(zhǔn)確地測(cè)得涂層厚度，通過(guò)用已知尺寸的球在涂層上磨出小球坑來(lái)實(shí)現(xiàn)該目的，使用光學(xué)顯微鏡觀察時(shí)可看到呈錐形薄膜橫截面。膜厚儀只需2到5分鐘即可測(cè)量出涂層的厚度，電機(jī)固定在一個(gè)液壓臂上，從而對(duì)樣品的尺寸不造成任何限制，該測(cè)試儀是快速精確地測(cè)量工業(yè)中常見(jiàn)的涂層部件的涂層...

深能級(jí)瞬態(tài)譜儀是檢測(cè)半導(dǎo)體材料中深能級(jí)雜質(zhì)和晶體缺陷有用的方法，可用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池材料中的各種雜質(zhì)和缺陷，包括金屬雜質(zhì)以及點(diǎn)缺陷和位錯(cuò)的等各種缺陷類型，從而分析影響少子壽命的關(guān)鍵性雜質(zhì)元素和缺陷。深能級(jí)瞬態(tài)譜是半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段，根據(jù)半導(dǎo)體P-N結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容技術(shù)和深能級(jí)瞬態(tài)譜的發(fā)射率窗技術(shù)測(cè)量出的深能級(jí)瞬態(tài)譜，是一種具有很高檢測(cè)靈敏度的實(shí)驗(yàn)方法，能檢測(cè)半導(dǎo)體中微量雜質(zhì)、缺陷的深能級(jí)及界面態(tài)，通過(guò)對(duì)樣品的...